Development of X-ray Imaging Spectroscopy Sensor with SOI CMOS Technology
Development of X-ray Imaging Spectroscopy Sensor with SOI CMOS Technology
复制标题
采用SOI CMOS技术开发X射线成像光谱传感器
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.G.Ryu;et al.
