Film Thickness Dependence of Ferroelectric Properties of (111)-Oriented Epitaxial Bi(Mg_<1/2>Ti_<1/2>)O_3 Films
Film Thickness Dependence of Ferroelectric Properties of (111)-Oriented Epitaxial Bi(Mg_<1/2>Ti_<1/2>)O_3 Films
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(111)取向外延Bi(Mg_<1/2>Ti_<1/2>)O_3薄膜铁电性能的膜厚依赖性
DOI：
10.1143/jjap.51.09la04
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Funakubo
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takahiro Oikawa;Shintaro Yasui;Takayuki Watanabe;Hisato Yabuta;Yoshitaka Ehara;Tetsuo Fukui;Hiroshi Funakubo
