3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について
3値テストパターンに対する遅延テスト品質計算とX割当について
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关于三元测试模式的延迟测试质量计算和 X 分配
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
温暁青
中科院分区：
文献类型：
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作者：
奥慎治;梶原誠司;佐藤康夫;宮瀬紘平;温暁青
