A simulation-based re-examination of single event transient pulse propagation failures in NOR/NAND devices
A simulation-based re-examination of single event transient pulse propagation failures in NOR/NAND devices
复制标题
基于仿真的 NOR/NAND 器件中单事件瞬态脉冲传播故障的重新检查
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Hatano
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤進;葉茂;H. Hatano
