B. J. Hinds, T. Yamanaka and S. Oda: "Emission Lifetime of Polarizable Charge Stored in Nano-Crystalline Si Based Single Electron Memory"Journal of Applied Physics. 90(12). 6402-6408 (2001)
B. J. Hinds, T. Yamanaka and S. Oda: "Emission Lifetime of Polarizable Charge Stored in Nano-Crystalline Si Based Single Electron Memory"Journal of Applied Physics. 90(12). 6402-6408 (2001)
复制标题
B. J. Hinds、T. Yamanaka 和 S. Oda：“基于纳米晶硅的单电子存储器中存储的可极化电荷的发射寿命”应用物理学杂志。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
