Characterization of silicon carbide and silicon powders by XPS and zeta potential measurement
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DOI：
10.1023/a:1006734100499
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发表时间：
2001-01-01
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Zhang, Y
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Binner, J;Zhang, Y
