開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測
開発履歴メトリクスを用いた細粒度なFault-proneモジュール予測
复制标题
使用开发历史指标进行细粒度的易出现故障的模块预测
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
畑秀明
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Uyeno;D.;畑秀明
