Observation of Dislocations in Thick Specimens Using by The High-Voltage Electron Microscopy with an Energy Filter
Observation of Dislocations in Thick Specimens Using by The High-Voltage Electron Microscopy with an Energy Filter
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使用带有能量滤波器的高压电子显微镜观察厚样品中的位错
DOI：
10.2320/materia.55.597
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松村晶
中科院分区：
文献类型：
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作者：
定松直;田中將己;東田賢二;松村晶
