Wide temperature- and voltage-range temperature sensing utilizing statistical property of sub-threshold MOSFET current
Wide temperature- and voltage-range temperature sensing utilizing statistical property of sub-threshold MOSFET current
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利用亚阈值 MOSFET 电流的统计特性进行宽温度和电压范围温度感测
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Osami Wada
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shinichi Ota;Mahfuzul Islam;Takashi Hisakado;and Osami Wada
