Belle II 実験のための 高い放射線耐性を持った DAQ エレクトロニクス
Belle II 実験のための
高い放射線耐性を持った
DAQ エレクトロニクス
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Belle II 用于实验
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中尾幹彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
樋口岳雄;中尾幹彦
