Acoustic Anomalies in Amorphous Thin Films of Si and SiO2
Acoustic Anomalies in Amorphous Thin Films of Si and SiO2
复制标题
Si 和 SiO2 非晶薄膜中的声异常
DOI：
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发表时间：
1980
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Hunklinger
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M. Haumeder;U. Strom;S. Hunklinger
