Diagnosis for Interconnect Faults in Memory-based Reconfigurable Logic Device
Diagnosis for Interconnect Faults in Memory-based Reconfigurable Logic Device
复制标题
基于存储器的可重构逻辑器件互连故障的诊断
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Xihong Zhou ; Senling Wang ; Yoshinobu Higami ; Hiroshi Takahashi
