Measurement of Defect-induced Electrical Resistivity Change of Tungsten Wire at Cryogenic Temperature Using High-energy Proton Irradiation
Measurement of Defect-induced Electrical Resistivity Change of Tungsten Wire at Cryogenic Temperature Using High-energy Proton Irradiation
复制标题
利用高能质子辐照测量低温下钨丝缺陷引起的电阻率变化
DOI：
10.7566/jpscp.28.061003
复制
发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Shima Tatsushi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Iwamoto Yosuke;Yoshida Makoto;Matsuda Hiroki;Meigo Shin-ichiro;Satoh Daiki;Yashima Hiroshi;Yabuuchi Atsushi;Kinomura Atsushi;Shima Tatsushi
