Crystalline Quality and Structure of MBE-Grown Ferromagnetic Semiconductor ZnSnAs2:Mn Thin Films Revealed by High-Resolution X-ray Diffraction Measurements
Crystalline Quality and Structure of MBE-Grown Ferromagnetic Semiconductor ZnSnAs2:Mn Thin Films Revealed by High-Resolution X-ray Diffraction Measurements
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高分辨率 X 射线衍射测量揭示 MBE 生长的铁磁半导体 ZnSnAs2:Mn 薄膜的晶体质量和结构
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Toshio Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Naotaka Uchitomi;Hideyuki Toyota;Toshio Takahashi
