Simultaneous interface defect density and differential capacitance imaging by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
Simultaneous interface defect density and differential capacitance imaging by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
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通过时间分辨扫描非线性介电显微镜同时进行界面缺陷密度和微分电容成像
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kohei Yamasue and Yasuo Cho
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. YAMASUE;Y. CHO;Kohei Yamasue and Yasuo Cho
