T.Goto and K.Hane: ""Tapping mode capacitance microscopy of a nitride-oxide-silicon recording medium, "" Advances in Information Storage Systems. (in press). (1998)
T.Goto and K.Hane: ""Tapping mode capacitance microscopy of a nitride-oxide-silicon recording medium, "" Advances in Information Storage Systems. (in press). (1998)
复制标题
T.Goto 和 K.Hane：“氮化物-氧化物-硅记录介质的轻敲模式电容显微镜”，“信息存储系统的进展”。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
