Hを含むプラズマによるSi基板ダメージ構造とその回復プロセスについての検討

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含氢等离子体对硅基片损伤结构及其恢复过程的研究

DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
斧高一
斧高一
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
中久保義則;松田朝彦;深沢正永;鷹尾祥典;江利口浩二;辰巳哲也;斧高一

文献摘要

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