希ガス混合Si薄膜における酸素の低減化II
希ガス混合Si薄膜における酸素の低減化II
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稀有气体混合硅薄膜中的氧还原 II
DOI:
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发表时间:
2012
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
奥村竜二,羽渕仁恵,飯田民夫,大橋史隆,伴 隆幸,久米徹二,野々村修一
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Yutaka Sawada1,a;Hayato Ohkubo1;Fig8 Changes in effective refractive index of the films at 633 nm due to incidence angle. Yoshiyuki Seki1;Keh-moh Lin2,b;Kazuyuki Sano1;Shigeyuki Seki3,c;Takayuki Uchida1 and Yoichi Hoshi;奥村竜二,羽渕仁恵,飯田民夫,大橋史隆,伴 隆幸,久米徹二,野々村修一