Electrical breakdown characteristic of a Ce-doped W-Cu contact material
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DOI：
10.1007/s12598-010-0045-z
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发表时间：
2010-05
期刊：
影响因子：
8.8
通讯作者：
K. Hu;Mian Chen;H. Ye
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Hu;Mian Chen;H. Ye
