Effect of temperature on electrical properties of metal-ferroelectric(SrBi2Ta2O2)-insulator(HfTaO)-Silicon capacitor
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温度对金属-铁电(SrBi2Ta2O2)-绝缘体(HfTaO)-硅电容器电性能的影响
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Y. Huang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X. Wang;C. Zeng;Y. F. En;Y. Huang
