Contact to Sample Surface by Self-excited Micro-cantilever Probe in AFM

Contact to Sample Surface by Self-excited Micro-cantilever Probe in AFM
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AFM 中自激微悬臂梁探针与样品表面的接触

DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
IUTAM Symposium on Dynamics Modeling and Interaction Control in Virtual and Real Environments
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi YABUNO
Hiroshi YABUNO
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Ken-ichi KONNO;Tadashi KOSAWADA;Ryota SATO;Zhonggang Feng;Yasukazu HOZUMI and Kaoru GOTO;Hiroshi YABUNO

文献摘要

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