In situ Observation of LIPSS Formation on Si Wafers under THz-FEL Irradiation
In situ Observation of LIPSS Formation on Si Wafers under THz-FEL Irradiation
复制标题
THz-FEL 辐射下硅片上 LIPSS 形成的原位观察
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Suga and S. Sakabe
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Nagashima;A. Irizawa;M. Hashida;A. Higashiya;S. Suga and S. Sakabe
