平面検出器を用いた X 線回折スポット解析法の開発 -粒成長・相転移ダイナミクスの解明を目指して-
平面検出器を用いた X 線回折スポット解析法の開発 -粒成長・相転移ダイナミクスの解明を目指して-
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开发使用平面探测器的X射线衍射点分析方法 - 旨在阐明晶粒生长和相变动力学 -
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
瀬戸 雄介・佐藤 友子・平尾 直久
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ohtani;E.;Y. Shibazaki;T. Sakai;K. Mibe;H. Fukui;S. Kamada;T. Sakamaki;Y. Seto;S. Tsutsui;and A. Q. R. Baron;瀬戸 雄介・佐藤 友子・平尾 直久
