T. Nakayama, K. Takayanagi, Y. Tanishiro, K. Yagi:"Transmission electron diffraction analysis of the Si(001) 2 X1 reconstructed surface:" Proc. <XI> th Int. Cong. on Electron Microscopy,. 1,. 1343-1344 ((1986))
T. Nakayama, K. Takayanagi, Y. Tanishiro, K. Yagi:"Transmission electron diffraction analysis of the Si(001) 2 X1 reconstructed surface:" Proc. <XI> th Int. Cong. on Electron Microscopy,. 1,. 1343-1344 ((1986))
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T. Nakayama、K. Takayanagi、Y. Tanishiro、K. Yagi：“Si(001) 2 X1 重建表面的透射电子衍射分析：”Proc。
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