Y. Waseda et al.: "High Temperature X-ray Diffraction Study of Melt Strucutre of Silicon" Jpn. J. Appl. Phys.34. 4124-4128 (1995)
Y. Waseda et al.: "High Temperature X-ray Diffraction Study of Melt Strucutre of Silicon" Jpn. J. Appl. Phys.34. 4124-4128 (1995)
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Y. Waseda 等：“硅熔体结构的高温 X 射线衍射研究”Jpn。
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