Measurement of charge carriers' dynamics in diamond thin films by a fast TOF system using a UV pulsed Laser
Measurement of charge carriers' dynamics in diamond thin films by a fast TOF system using a UV pulsed Laser
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使用紫外脉冲激光通过快速 TOF 系统测量金刚石薄膜中载流子的动态
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et. al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Oshiki;J. H. Kaneko;F. Fujita;et. al.
