Radiation Hardness Test of GaN Diode for Irradiation with High Energy Electron Beam

Radiation Hardness Test of GaN Diode for Irradiation with High Energy Electron Beam
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GaN二极管高能电子束辐照辐射硬度测试

DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
Research Report of Laboratory of Nuclear Science Vol.40
影响因子：
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通讯作者：
and J.Kasagi
and J.Kasagi
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
S.Narita;Y.Yamaguchi;Y.Chiba;H.Yuki;H.Hinode;and J.Kasagi

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