Development of nanometer-order height sensing method for the measurement of contact line structure for dynamic wetting process
Development of nanometer-order height sensing method for the measurement of contact line structure for dynamic wetting process
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开发用于测量动态润湿过程接触线结构的纳米级高度传感方法
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroharu Yui
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Motohiro Banno;Fuyu Ohno;Hiroharu Yui
