K. Sasajima, K. Naoi, T. Tsukada: "An Evaluation of Surface Asperity Profile Changes in Truncation Processes Using Optical Interferometric Microscope"8th Int. Conf. On Metrology and Properties of Engineering Surfaces. (2000)
K. Sasajima, K. Naoi, T. Tsukada: "An Evaluation of Surface Asperity Profile Changes in Truncation Processes Using Optical Interferometric Microscope"8th Int. Conf. On Metrology and Properties of Engineering Surfaces. (2000)
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K. Sasajima、K. Naoi、T. Tsukada：“使用光学干涉显微镜评估截断过程中的表面凹凸轮廓变化”第 8 期 Int。
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