Atomic Scale Analysis Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy for Cleaved KBr_Water Interfaces Formed in Air with Different Humiditie
Atomic Scale Analysis Using Frequency Modulation Atomic Force Microscopy for Cleaved KBr_Water Interfaces Formed in Air with Different Humiditie
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利用调频原子力显微镜对不同湿度空气中形成的裂解 KBr_水界面进行原子尺度分析
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H. Ooe and T. Arai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
和田昌樹;根津昇輝;岩場雅司;藤原早希;関口康爾;関口康爾;H. Ooe and T. Arai
