Choong Hoon Yl, Itaru YASUI,Yuzo SHIGESATO: "Effect of Tin Concentrations on Structural Characteristics and Electropical Properties of Tin-Doped Indium Oxide Films Prepared by RF Magnetron Sputtering." Jpn.J.Appl.Phys. 34. 600-605 (1995)
Choong Hoon Yl, Itaru YASUI,Yuzo SHIGESATO: "Effect of Tin Concentrations on Structural Characteristics and Electropical Properties of Tin-Doped Indium Oxide Films Prepared by RF Magnetron Sputtering." Jpn.J.Appl.Phys. 34. 600-605 (1995)
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Choong Hoon Yl、Itaru YASUI、Yuzo SHIGESATO：“锡浓度对射频磁控溅射制备的锡掺杂氧化铟薄膜的结构特性和电性能的影响”。
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