Robust Through-Fin Avalanche in Vertical GaN Fin-JFET With Soft Failure Mode
Robust Through-Fin Avalanche in Vertical GaN Fin-JFET With Soft Failure Mode
复制标题
具有软故障模式的垂直 GaN Fin-JFET 中的稳健穿鳍雪崩
DOI：
10.1109/led.2022.3144698
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发表时间：
2022
影响因子：
4.9
通讯作者：
Zhang, Yuhao
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Zhang, Ruizhe;Liu, Jingcun;Li, Qiang;Pidaparthi, Subhash;Edwards, Andrew;Drowley, Cliff;Zhang, Yuhao
