陽電子マイクロビームと電子線誘起電流法(EBIC)による結晶欠陥の観察
陽電子マイクロビームと電子線誘起電流法(EBIC)による結晶欠陥の観察
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使用正电子微束和电子束感应电流法（EBIC）观察晶体缺陷
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
前川雅樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takao Ochiai;Tetsuya Narushima;Katsuhiro Isozaki;Hiromi Okamoto;Kazushi Miki;前川雅樹
