Takuji Takahashi, Takashi Kawamukai and Itaru Kamiya: "Characterization of InAs dots on n-GaAs by AFM with a conductive tip" Surface and Interface Analysis. 27, (in press).
Takuji Takahashi, Takashi Kawamukai and Itaru Kamiya: "Characterization of InAs dots on n-GaAs by AFM with a conductive tip" Surface and Interface Analysis. 27, (in press).
复制标题
Takuji Takahashi、Takashi Kawamukai 和 Itaru Kamiya：“通过带有导电尖端的 AFM 对 n-GaAs 上的 InAs 点进行表征”表面和界面分析。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
