単層カーボンナノチユーブの電子刺激誘起欠陥- 水素熱脱離測定による高感度検出
単層カーボンナノチユーブの電子刺激誘起欠陥- 水素熱脱離測定による高感度検出
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电子刺激引起的单壁碳纳米管缺陷 - 通过氢热解吸测量进行高灵敏度检测
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
前田康二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
有馬智史;李相吉;目良裕;藤原貴之;小倉正平;福谷克之;佐藤義倫;田路和幸;前田康二
