In-situ Observation of Thin Film Growth of Organic Semiconductors by 2D-Xray Diffraction
In-situ Observation of Thin Film Growth of Organic Semiconductors by 2D-Xray Diffraction
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通过 2D-X 射线衍射原位观察有机半导体薄膜生长
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Hirosawa，
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N.Yoshimoto;T. Watanabe;T. Koganezwa;M. Kikuchi;D. Kuzuhara;M. Suzuki;H. Yamada;I. Hirosawa，
