Four-probe measurements of carbon nanotubes with narrow metal contacts
Four-probe measurements of carbon nanotubes with narrow metal contacts
复制标题
具有窄金属接触点的碳纳米管的四探针测量
DOI：
10.1103/physrevb.76.161405
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发表时间：
2007
影响因子：
3.7
通讯作者：
G. Finkelstein
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
A. Makarovski;A. Zhukov;J. Liu;G. Finkelstein
我们发现，单壁碳纳米管中的电子可以在金属接触下传播很远的距离(几十纳米)。我们对纳米管的电导进行了四探针输运测量，并观察到明显偏离标准的基尔霍夫电路规则。最值得注意的是，在纳米管一端的两个相邻触点之间注入电流，会在另一端的两个触点之间产生非零的电压差。
We find that electrons in single-wall carbon nanotubes may propagate substantial distances (tens of nanometers) under the metal contacts. We perform four-probe transport measurements of the nanotube conductance and observe significant deviations from the standard Kirchhoff's circuit rules. Most noticeably, injecting current between two neighboring contacts on one end of the nanotube, induces a non-zero voltage difference between two contacts on the other end.
影响因子：
8.6
作者：
Bezryadin, A;Verschueren, ARM;Dekker, C
通讯作者：
Dekker, C