Impact of interface roughness on threshold-voltage variation in ultra-small three-dimensional MOSFETs
Impact of interface roughness on threshold-voltage variation in ultra-small three-dimensional MOSFETs
复制标题
界面粗糙度对超小型三维 MOSFET 阈值电压变化的影响
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
H.Minari
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N.Mori;H.Minari
