In-Situ Observation of Fracture Behavior of Silicon in a Transmission Electron Microscope
In-Situ Observation of Fracture Behavior of Silicon in a Transmission Electron Microscope
复制标题
硅断裂行为的透射电子显微镜原位观察
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masahiro Nakajima and Taeko Ando
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kohei Okada;Syugo Tanaka;Kensuke Nakata;Masahiro Nakajima and Taeko Ando
