Ken Kaminishi: "Numerical Analysis of Fatigue Crack Growth in Pb-free Microelectronics Solder Joints"Proc.European Congress on Computational Methods in Applied Sciences and Engineering. (CD-ROM). (2000)
Ken Kaminishi: "Numerical Analysis of Fatigue Crack Growth in Pb-free Microelectronics Solder Joints"Proc.European Congress on Computational Methods in Applied Sciences and Engineering. (CD-ROM). (2000)
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Ken Kaminishi：“无铅微电子焊点疲劳裂纹扩展的数值分析”Proc.欧洲应用科学与工程计算方法大会。
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