Scanning tunneling spectroscopy study of 20 nm-thick nitrogen-doped lanthanum hexaboride thin film

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20 nm厚氮掺杂六硼化镧薄膜的扫描隧道光谱研究

DOI：
--
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发表时间：
2019
期刊：
Vacuum
影响因子：
4
通讯作者：
S. Ohmi
S. Ohmi
中科院分区：
材料科学2区
文献类型：
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作者：
K. Nagaoka;W. Hayami;S. Ohmi

文献摘要

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