Novel test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation upset analysis
Novel test circuit structures using selectively metal-covered transistors for a laser irradiation upset analysis
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使用选择性金属覆盖晶体管进行激光辐照翻转分析的新颖测试电路结构
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Hatano
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroshi Hatano
