M.-S.Nomura, M.Arita, S.Ashihara, S.Kako, M.Nishioka, Y.Arakawa, T.Shimura, K.Kuroda: "Thickness dependence of transient absorption spectrum for InGaN thin films"physica status solidi (c). Vol.0,No.7. 2606-2609 (2003)
M.-S.Nomura, M.Arita, S.Ashihara, S.Kako, M.Nishioka, Y.Arakawa, T.Shimura, K.Kuroda: "Thickness dependence of transient absorption spectrum for InGaN thin films"physica status solidi (c). Vol.0,No.7. 2606-2609 (2003)
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M.-S.Nomura、M.Arita、S.Ashihara、S.Kako、M.Nishioka、Y.Arakawa、T.Shimura、K.Kuroda：“InGaN 薄膜瞬态吸收光谱的厚度依赖性”物理状态固体
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