金属性HfN/絶縁性HfNxによる全窒化膜Geゲートスタックの研究

金属性HfN/絶縁性HfNxによる全窒化膜Geゲートスタックの研究
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金属HfN/绝缘HfNx全氮化物Ge栅叠层的研究

DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
第19回ゲートスタック研究会(主催 応用物理学会薄膜・表面物理分科会,シリコンテクノロジー分科会)
影响因子:
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通讯作者:
前田 辰郎
前田 辰郎
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
三浦 脩;田中 正俊;安田 哲二;前田 辰郎

文献摘要

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