Dynamic Test Stimulus Adaptation for Analog/RF Circuits Using Booleanized Models Extracted from Hardware
Dynamic Test Stimulus Adaptation for Analog/RF Circuits Using Booleanized Models Extracted from Hardware
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使用从硬件中提取的布尔模型对模拟/射频电路进行动态测试激励自适应
DOI：
10.1109/tcad.2019.2948902
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发表时间：
2019
影响因子：
2.9
通讯作者：
Chatterjee, Abhijit
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Deyati, Sabyasachi;Muldrey, Barry J.;Chatterjee, Abhijit
