STEM-EELSによる高分解能電子状態解析
STEM-EELSによる高分解能電子状態解析
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使用 STEM-EELS 进行高分辨率电子结构分析
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
治田 充貴
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Kan;R. Aso;R. Sato;M. Haruta;H. Kurata;and Y. Shimakawa;治田 充貴
影响因子：
3.7
作者：
Morikawa, Y;Ishii, H;Seki, K
通讯作者：
Seki, K