Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors
Experimental Study of Bias Stress Degradation of Organic Thin Film Transistors
复制标题
有机薄膜晶体管偏置应力退化的实验研究
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Takashi Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kunihiro Oshima;Michiaki Saito;Michihiro Shintani;Kazunori Kuribara;Yasuhiro Ogasahara;and Takashi Sato
