Measurement of 64 organic thin-film transistors in an array test structure using a relay-switch board for efficient evaluation of long-term reliability
Measurement of 64 organic thin-film transistors in an array test structure using a relay-switch board for efficient evaluation of long-term reliability
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使用继电器开关板测量阵列测试结构中的 64 个有机薄膜晶体管，以有效评估长期可靠性
DOI：
10.35848/1347-4065/acae2d
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发表时间：
2023
影响因子：
1.5
通讯作者：
Sato Takashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ogasahara Yasuhiro;Kuribara Kazunori;Sato Takashi
