宇宙X線観測に向けた裏面照射型CMOSセンサの撮像分光性能評価
宇宙X線観測に向けた裏面照射型CMOSセンサの撮像分光性能評価
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用于宇宙X射线观测的背照式CMOS传感器成像光谱性能评估
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
江副祐一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
中嶋大;樫村晶;平賀純子;由比大斗;吉田将之;江副祐一郎
