Investigation on corneal epithelium damage thresholds by CEM43°C criterion due to millimeter-wave electromagnetic field exposure
Investigation on corneal epithelium damage thresholds by CEM43°C criterion due to millimeter-wave electromagnetic field exposure
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采用CEM43℃标准研究毫米波电磁场暴露引起的角膜上皮损伤阈值
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hiroshi Sasaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yukihisa Suzuki;Masami Kojima;Jerdvisanop Chakarothai;Kensuke Sasaki;Masao Taki;Hiroshi Sasaki
